ТОВ «Селток Фотонікс»
SELTOK PHOTONICS . COM
перший професійний
каталог оптоелектроніки 
ua
+38 (067) 326-44-76+38 (044) 351-16-05
Замовити дзвінок
Кошик замовлення
  • Меню
  • Каталог
    • Thorlabs
      • Оптомеханіка
        • Оптичні столи
        • Оптомеханічні компоненти
        • Позиціонування. Управління переміщенням
      • Детектори
        • Фотоелектронні помножувачі / ФЕП
      • Оптика
        • Оптичні компоненти
        • Поляризаційні компоненти
        • Оптичні ізолятори
      • Оптоволокно
        • Волокно та патчкорди
        • Оптоволоконні компоненти
        • Інспекційні інструменти
      • Джерела випромінювання
        • Лазери
        • Некогерентні джерела світла
      • Аналіз випромінювання
        • Вимірювання потужності та енергії
        • Візуалізація випромінювання
      • Лабораторне приладдя та аксесуари
      • Діафрагми, апертури, пінхоли
    • Лазери
      • Напівпровідникові лазери
        • Лазерні діоди
        • Лазерні діоди з волоконним виводом
        • Масиви лазерних діодів
      • Волоконні лазери
    • Джерела випромінювання
      • Джерела УФ випромінювання
        • Джерела світла
        • Аксесуари
      • Ксенонові / Ртутно-ксенонові лампи / LDLS
      • Дейтерієві лампи
      • Мультиспектральні джерела світла
      • Лампи з порожнистим катодом
      • LED системи та світлодіоди
      • Джерела інфрачервоного випромінювання
      • Джерела рентгенівського випромінювання
    • Детектори. Системи відображення. Підсилювачі
      • Електронні трубки
        • Фотоелектронні помножувачі / ФЕП
        • Модулі ФЕП
        • Датчики полум’я
        • Фотоелементи
        • Аксесуари
      • Оптонапівпровідникові детектори
        • Фотодіоди
        • Детектори інфрачервоні
        • Кремнієві ФЕП SiPM
        • Фотоелектронні інтегральні схеми
        • Плати керування
      • Підсилювачі
      • Сцинтилятори. Кристали
    • Камери. Об'єктиви
      • Камери
      • Об'єктиви
      • Аксесуари
    • Оптика. Оптичні системи
      • Оптика
        • Поляризаційні компоненти
        • Адаптивна оптика
      • Оптичні системи, монохроматори
        • Монохроматори
        • Оптичні системи
    • Спектрометрія
      • Спектрометри оптичні
      • Допоміжне спектрометричне обладнання
      • Спектрометричні оптоволоконні джерела світла
      • Раманівська спектрометрія
        • Раманівські спектрометри / Системи
        • Лазери для раманівської спектрометрії
        • Тримачі зразків, зонди та аксесуари
      • Вимірювальні системи
      • Портативні аналізатори для сільського господарства, промисловості, фармацевтики, LIBS
      • Аналізатори спектру
    • Осцилографи, аналізатори та генератори сигналів
      • Осцилографи
      • Генератори сигналів
        • Генератори імпульсів
        • Генератори сигналів довільної форми
        • Генератори шаблонів
        • Модулі NI FlexRIO
      • Аналізатори сигналів, дігітайзери, крейти
        • Модулі обробки імпульсів MCA
        • Дігітайзери
        • Крейти
        • Системи зчитування
    • Радіаційний моніторинг
      • Детектори радіаційного випромінювання
      • Блоки сигналізації та обробки даних
    • Екрановані бокси
      • Бокси з радіочастотним екрануванням
      • Інтерфейси вводу/виводу
    • Джерела живлення
  • Виробники
  • Про нас
    • Глосарій
    • Новини
    • Вакансії
    • Оплата та доставка
  • Контакти
    • Каталог
      • Thorlabs
      • Лазери
      • Джерела випромінювання
      • Детектори. Системи відображення. Підсилювачі
      • Камери. Об'єктиви
      • Оптика. Оптичні системи
      • Спектрометрія
      • Осцилографи, аналізатори та генератори сигналів
      • Радіаційний моніторинг
      • Екрановані бокси
      • Джерела живлення
    • Виробники
    • Про нас
      • Глосарій
      • Новини
      • Вакансії
      • Оплата та доставка
    • Контакти
    • Питання відповідь
    • Виробники
    Будьте завжди в курсі!
    Дізнавайтесь про новітні розробки першими
    Новини
    Всі новини
    4 Вересня 2023
    FPD-Link III та GMSL2 - нові можливості камер Alvium
    3 Квітня 2023
    Нова світлодіодна УФ-піч від UWAVE
    28 Березня 2023
    Нові потужні УФ-LED джерела світла для полімеризації від UWAVE
    Cтатті
    Всі статті
    HADAR – виявлення та визначення дальності за допомогою тепла
    HADAR – виявлення та визначення дальності за допомогою тепла
    Квантова заплутаність подвоює роздільну здатність мікроскопа
    Квантова заплутаність подвоює роздільну здатність мікроскопа
    Компактний спектрометр з багатофокусною металінзою
    Компактний спектрометр з багатофокусною металінзою
    Головна-Довідкова інформація-Cтатті-Квантова заплутаність подвоює роздільну здатність мікроскопа

    Квантова заплутаність подвоює роздільну здатність мікроскопа

    Квантова заплутаність подвоює роздільну здатність мікроскопа
    09.08.2023


                Оптичний мікроскоп може розрізняти деталі, розмір яких більший за приблизно половину довжини хвилі світла, яке він використовує. Очевидним шляхом підвищення роздільної здатності мікроскопа є зменшення довжини хвилі світла. Однак, зменшення довжини хвилі відповідає збільшенню енергії квантів світла — фотонів, а при дослідженні тендітних об’єктів, наприклад, біологічних, високоенергетичні фотони можуть руйнувати об’єкт дослідження.

                Певною мірою подолати цю проблему можна, використавши квантовозаплутані фотони, які можна отримати, наприклад, за допомогою нелінійнооптичного кристала, коли один високоенергетичний фотон “розвалюється” на два низькоенергетичні. Головна ідея застосування їх для мікроскопії полягає в тому, що така пара квантовозаплутаних фотонів несе таку ж енергію, що і початковий високоенергетичний фотон. Зображення, отримане за допомогою таких фотонів, матиме таку ж роздільну здатність, як і отримане за допомогою високоенергетичних фотонів. Але при цьому взаємодіяти з об’єктом дослідження достатньо лише одному фотону з пари квантовозаплутаних низькоенергетичних фотонів. Такий спосіб підвищення роздільної здатності оптичних вимірювань був запропонований давно [1] і був реалізований для візуалізації великих об’єктів [2], але для мікроскопії він досі застосований не був. 

                У новій роботі [3] дослідники зі США суттєво поліпшили просторову роздільну здатність і швидкодію методики, використавши об’єктиви з великою числовою апертурою й ефективніший алгоритм обробки даних вимірювань. Автори роботи назвали цей метод квантовою мікроскопією за збігом (quantum microscopy by coincidence, QMC), оскільки інформацію для побудови зображення отримують за просторовим і часовим збігом фотонів квантовозаплутаної пари (біфотонів), лише один з яких проходить через об’єкт дослідження. Дослідники продемонстрували перевагу нової методики над класичною на тестових об’єктах, вуглецевих нанотрубках і клітинах раку.

    1.PNG

                Головною проблемою методики в порівнянні з класичною мікроскопією залишається швидкодія. Сучасні методи створення заплутаних фотонів неефективні, що призводить до низького виходу біфотонних пар. Оскільки перевага QMC залежить від можливості генерувати велику кількість біфотонів, розробка методів, які можуть досягти цього, буде надзвичайно важливою. Очікується, що розробка інтенсивних і/або паралельних квантових джерел для квантових зображень прискорить отримання даних, і тоді методи квантової візуалізації справді вийдуть на передній план мікроскопії.

    1. D’Angelo, M., Chekhova, M. V. & Shih, Y. Two-photon diffraction and quantum lithography. Phys. Rev. Lett. 87, 013602 (2001).

    2. Mitchell, M. W., Lundeen, J. S. & Steinberg, A. M. Super-resolving phase measurements with a multiphoton entangled state. Nature 429, 161–164 (2004).

    3.  He, Z., Zhang, Y., Tong, X. et al. Quantum microscopy of cells at the Heisenberg limit. Nat Commun 14, 2441 (2023). https://doi.org/10.1038/s41467-023-38191-4 (open access)

    • Квантова заплутаність подвоює роздільну здатність мікроскопа
    • Квантова заплутаність подвоює роздільну здатність мікроскопа
    • Квантова заплутаність подвоює роздільну здатність мікроскопа
    Повернутися

    2023 © ТОВ «Селток Фотонікс»
    logo youtube.png   in logo.png
    ПОПУЛЯРНІ РОЗДІЛИ
    КОМПАНІЯ
    ІНФОРМАЦІЯ
    • Фотоелектронні помножувачі
    • Датчики полум'я
    • Фотодіоди
    • Інфрачервоні детектори
    • Інфрачервоні випромінювачі
    • Лінзи, дзеркала, призми
    • Монохроматори
    • Оптичні столи
    • Лазери
    • Про нас
    • Контакти
    • Виробники
    • Новини
    • Статті
    • Глосарій
    • Питання-відповідь
    • Особистий кабінет
    • Оплата та доставка
    +38 (067) 326-44-76+38 (044) 351-16-05
    Замовити дзвінок
    2023 © ТОВ «Селток Фотонікс»
    logo youtube.png   in logo.png