ТОВ «Селток Фотонікс»
SELTOK PHOTONICS . COM
перший професійний
каталог оптоелектроніки 
ua
+38 (067) 326-44-76+38 (044) 351-16-05
Замовити дзвінок
Кошик замовлення
  • Меню
  • Каталог
    • Thorlabs
      • Оптомеханіка
        • Оптичні столи
        • Оптомеханічні компоненти
        • Позиціонування. Управління переміщенням
      • Детектори
        • Фотоелектронні помножувачі / ФЕП
      • Оптика
        • Оптичні компоненти
        • Оптичні ізолятори
      • Оптоволокно
        • Волокно та патчкорди
        • Оптоволоконні компоненти
        • Інспекційні інструменти
      • Джерела випромінювання
        • Лазери
        • Некогерентні джерела світла
      • Аналіз випромінювання
        • Вимірювання потужності та енергії
        • Візуалізація випромінювання
      • Лабораторне приладдя та аксесуари
      • Діафрагми, апертури, пінхоли
    • Лазери
      • Напівпровідникові лазери
        • Лазерні діоди
        • Лазерні діоди з волоконним виводом
        • Масиви лазерних діодів
      • Волоконні лазери
    • Джерела випромінювання
      • Джерела УФ випромінювання
        • Джерела світла
        • Аксесуари
      • Ксенонові / Ртутно-ксенонові лампи / LDLS
      • Дейтерієві лампи
      • Мультиспектральні джерела світла
      • Лампи з порожнистим катодом
      • LED системи та світлодіоди
      • Джерела інфрачервоного випромінювання
      • Джерела рентгенівського випромінювання
    • Детектори. Системи відображення. Підсилювачі
      • Електронні трубки
        • Фотоелектронні помножувачі ФЕП / ФЭУ
        • Модулі ФЕП
        • Датчики полум’я
        • Фотоелементи
        • Аксесуари
      • Оптонапівпровідникові детектори
        • Фотодіоди
        • Детектори інфрачервоні
        • Кремнієві ФЕП SiPM
        • Фотоелектронні інтегральні схеми
        • Плати керування
      • Підсилювачі
      • Сцинтилятори. Кристали
    • Камери. Об'єктиви
      • Камери
      • Об'єктиви
      • Аксесуари
    • Оптика. Оптичні системи
      • Оптика
        • Поляризаційні компоненти
        • Адаптивна оптика
      • Оптичні системи, монохроматори
        • Монохроматори
        • Оптичні системи
      • Оптоволокно
        • Волоконно-оптичні пластини
    • Спектрометрія
      • Спектрометри оптичні
      • Допоміжне спектрометричне обладнання
      • Спектрометричні оптоволоконні джерела світла
      • Раманівська спектрометрія
        • Раманівські спектрометри / Системи
        • Лазери для раманівської спектрометрії
        • Тримачі зразків, зонди та аксесуари
      • Вимірювальні системи
      • Портативні аналізатори для сільського господарства, промисловості, фармацевтики, LIBS
    • Осцилографи, аналізатори та генератори сигналів
      • Осцилографи
      • Генератори сигналів
        • Генератори імпульсів
        • Генератори сигналів довільної форми
        • Генератори шаблонів
        • Модулі NI FlexRIO
      • Аналізатори сигналів, дігітайзери, крейти
        • Модулі обробки імпульсів MCA
        • Дігітайзери
        • Крейти
        • Системи зчитування
    • Радіаційний моніторинг
      • Детектори радіаційного випромінювання
      • Блоки сигналізації та обробки даних
    • Екрановані бокси
      • Бокси з радіочастотним екрануванням
    • Джерела живлення
  • Виробники
  • Про нас
    • Глосарій
    • Новини
    • Вакансії
  • Контакти
    • Каталог
      • Thorlabs
      • Лазери
      • Джерела випромінювання
      • Детектори. Системи відображення. Підсилювачі
      • Камери. Об'єктиви
      • Оптика. Оптичні системи
      • Спектрометрія
      • Осцилографи, аналізатори та генератори сигналів
      • Радіаційний моніторинг
      • Екрановані бокси
      • Джерела живлення
    • Виробники
    • Про нас
      • Глосарій
      • Новини
      • Вакансії
    • Контакти
    • Питання відповідь
    • Виробники
    Будьте завжди в курсі!
    Дізнавайтесь про новітні розробки першими
    Новини
    Всі новини
    3 Квітня 2023
    Нова світлодіодна УФ-піч від UWAVE
    28 Березня 2023
    Нові потужні УФ-LED джерела світла для полімеризації від UWAVE
    9 Грудня 2022
    Нова камера TAMRON MP3010M-EV з 10х зумом та стабілізацією зображення
    Cтатті
    Всі статті
    Інтерференція на двох щілинах у часовому вимірі
    Інтерференція на двох щілинах у часовому вимірі
    Перше спостереження “відбивання в часі” для мікрохвиль
    Перше спостереження “відбивання в часі” для мікрохвиль
    Мініатюрні лазери з вузькою шириною лінії і перебудовою довжини хвилі випромінювання
    Мініатюрні лазери з вузькою шириною лінії і перебудовою довжини хвилі випромінювання
    Головна-Довідкова інформація-Cтатті-Інтерференція на двох щілинах у часовому вимірі

    Інтерференція на двох щілинах у часовому вимірі

    Інтерференція на двох щілинах у часовому вимірі
    01.05.2023

    Інтерференція на двох щілинах у часовому вимірі

    Дослід Юнга, виконаний у 1802 році, продемонстрував явище інтерференції світла на двох щілинах. Завдяки цьому експерименту було доведено хвильову природу світла. Пізніше цей експеримент був повторений у різних варіаціях, зокрема, з одиничними фотонами, або з частинками (електрони, нейтрони, атоми, молекули) замість фотонів. Тепер, група дослідників з Великої Британії, США, Німеччини й Австралії продемонструвала аналогічний експеримент зі щілинами не в просторі, а в часі.

    В класичному експерименті, коли світлова хвиля потрапляє на бар’єр, що містить дві вузькі щілини, розділені в просторі, її частота залишається незмінною, але її імпульс змінюється, після дифракції на них. Це означає, що розподіл електричного поля світла на екрані відповідає Фур’є-спектру функції, яка описує форму щілин у просторі.

    Натомість, часовий аналог цього явища передбачає фіксований імпульс, але змінну частоту. Матеріал, в якому дві “щілини” швидко з’являються, а потім зникають одна за одною, має змусити вхідні хвилі тримати свій шлях у просторі, але розширюватися за частотою – так звана дифракція в часі. При цьому, частотний спектр є перетворенням Фур’є функції, що описує щілини в часі. Інтерференція відбувається між хвилями на різних частотах, а не в різних просторових положеннях, і породжує смуги.

    Експеримент виконано за типовою схемою “збудження-зондування” (pump-probe). Використано фемтосекундні лазерні імпульси ближнього інфрачервоного діапазону (~1300 нм). Імпульс збудження складався з двох коротких імпульсів, час затримки між якими варіювали (500 — 800 фс) і спостерігали відповідні зміни в частотному спектрі імпульсу зондування. Матеріалом, який швидко змінював свої властивості в часі, була тонка плівка (40 нм) оксиду індію й олова (ITO) між скляною підкладкою і напиленим шаром золота.

    Крім концептуально нового погляду на класичне явище інтерференції, експеримент виявив значно швидший (1 — 10 фс, тобто порядку періоду оптичної хвилі, який складав 4,4 фс) відгук ITO на оптичне збудження, ніж досі вважали.

    photo_1.png

    Спостереження часової подвійної щілинної дифракції Юнга прокладає шлях до оптичних реалізацій метаматеріалів, що змінюються в часі, та нових реалізацій таких явищ, як невзаємність, нові форми підсилення, інверсія часу, оптична топологія Флоке. Передбачається, що концепцію дифракції на двох щілинах у часі можна поширити на інші хвильові, наприклад хвилі матерії, оптомеханіку й акустику, електроніку й спінтроніку, з очікуваними застосуваннями для формування імпульсів, обробки сигналів, обчислень тощо.

    photo_2.png

    Робота опублікована в журналі Nature Physics:

    Tirole, R., Vezzoli, S., Galiffi, E. et al. Double-slit time diffraction at optical frequencies. Nat. Phys. (2023). https://doi.org/10.1038/s41567-023-01993-w

    Зі змістом роботи можна ознайомитись за посиланням: https://arxiv.org/abs/2206.04362

    Повернутися

    2023 © ТОВ «Селток Фотонікс»
    logo youtube.png   in logo.png
    ПОПУЛЯРНІ РОЗДІЛИ
    КОМПАНІЯ
    ІНФОРМАЦІЯ
    • Фотоелектронні помножувачі
    • Датчики полум'я
    • Фотодіоди
    • Інфрачервоні детектори
    • Інфрачервоні випромінювачі
    • Лінзи, дзеркала, призми
    • Монохроматори
    • Оптичні столи
    • Лазери
    • Про нас
    • Контакти
    • Виробники
    • Новини
    • Статті
    • Глосарій
    • Питання-відповідь
    • Особистий кабінет
    +38 (067) 326-44-76+38 (044) 351-16-05
    Замовити дзвінок
    2023 © ТОВ «Селток Фотонікс»
    logo youtube.png   in logo.png