ТОВ «Селток Фотонікс»
SELTOK PHOTONICS . COM
перший професійний
каталог оптоелектроніки 
ua
+380 (44) 351-16-05+380 (67) 326-44-76 Замовити дзвінок
Кошик замовлення
  • Меню
  • Каталог
    • Thorlabs
      • Оптомеханіка
        • Оптичні столи
        • Оптомеханічні компоненти
        • Позиціонування. Управління переміщенням
      • Детектори
        • Фотоелектронні помножувачі / ФЕП
        • Детектори з підсилювачами
      • Оптика
        • Оптичні компоненти
        • Поляризаційні компоненти
        • Оптичні системи
        • Оптичні ізолятори
      • Оптоволокно
        • Волокно та патчкорди
        • Оптоволоконні компоненти
        • Інспекційні інструменти
      • Джерела випромінювання
        • Лазери
        • Некогерентні джерела світла
      • Аналіз випромінювання
        • Вимірювання потужності та енергії
        • Візуалізація випромінювання
      • Лабораторне приладдя та аксесуари
      • Діафрагми, апертури, пінхоли
    • Лазери
      • Напівпровідникові лазери
        • Лазерні діоди
        • Діодні лазерні модулі
        • Лазерні діоди з волоконним виводом
        • Масиви лазерних діодів
      • Волоконні лазери
      • Газові лазери
    • Джерела випромінювання
      • Джерела УФ випромінювання
        • Джерела світла
        • Аксесуари
      • Ксенонові джерела випромінювання
      • Дейтерієві джерела випромінювання
      • Лампи з порожнистим катодом
      • LED системи та світлодіоди
      • Джерела інфрачервоного випромінювання
      • Налаштовувані джерела світла
      • Калібрувальні джерела світла
    • Детектори. Системи відображення. Підсилювачі
      • Електронні трубки
        • Фотоелектронні помножувачі / ФЕП
        • Модулі ФЕП
        • Датчики полум’я
        • Аксесуари
      • Оптонапівпровідникові детектори
        • Фотодіоди
        • Детектори інфрачервоні
        • Плати керування
      • Підсилювачі
    • Відеокамери. Об'єктиви
      • Камери
      • Тепловізійні камери
      • Біспектральні камери
      • Об'єктиви
      • Аксесуари
        • Адаптери, кабелі та кабельні збірки
        • Кріплення та підвіси
        • Фільтри
        • Адаптери для об'єктивів
        • Пульти, контролери та позиціонери
        • Фрейм - грабери
        • Інтерфейсні плати та перетворювачі
        • Блоки живлення
        • Набори для розробки
        • Програмне забезпечення
      • Мікродисплеї
        • Мікродисплеї
        • Плати керування та аксесуари
    • Модулі лазерної підсвітки
    • Тепловізори. Тепловізійні монокуляри
      • Тепловізори
      • Тепловізійні монокуляри
      • Об'єктиви для тепловізорів
      • Аксесуари
    • Оптика. Оптичні системи
      • Оптичні системи, монохроматори
        • Монохроматори / Спектрографи
      • Коліматори та компоненти
        • Коліматори
        • Аксесуари та компоненти
    • Спектрометрія
      • Спектрометри оптичні
      • Допоміжне спектрометричне обладнання
      • Спектрометричні оптоволоконні джерела світла
      • Раманівська спектрометрія
        • Раманівські спектрометри / Системи
        • Лазери для раманівської спектрометрії
        • Тримачі зразків, зонди та аксесуари
      • Вимірювальні системи
      • Портативні аналізатори для сільського господарства, промисловості, фармацевтики, LIBS
    • Осцилографи, аналізатори та генератори сигналів
      • Осцилографи
      • Аналізатори спектру
      • Генератори сигналів
        • Генератори імпульсів
        • Генератори сигналів довільної форми
        • Генератори шаблонів
      • Мультиметри
      • Аналізатори сигналів, дігітайзери, крейти
        • Модулі обробки імпульсів MCA
        • Дігітайзери
        • Крейти
        • Системи зчитування
      • Радіочастотні перемикачі
      • Вимірювальні щупи та аксесуари
    • Екрановані бокси
      • Бокси з радіочастотним екрануванням
      • Інтерфейси вводу/виводу
    • Джерела живлення, електронні навантаження
      • Джерела живлення
      • Електронні навантаження
    • Аналітичне, лабораторне обладнання
      • Обладнання для нанесення тонкоплівкових покриттів
      • Дослідження електричних характеристик
      • Симулятори сонячного світла
      • Обладнання для підготовки зразків
      • Обладнання для біологічних досліджень
  • Виробники
  • Про нас
    • Глосарій
    • Новини
    • Вакансії
    • Оплата та доставка
    • Політика конфіденційності
    • Договір публічної оферти
  • Контакти
    • Каталог
      • Thorlabs
      • Лазери
      • Джерела випромінювання
      • Детектори. Системи відображення. Підсилювачі
      • Відеокамери. Об'єктиви
      • Модулі лазерної підсвітки
      • Тепловізори. Тепловізійні монокуляри
      • Оптика. Оптичні системи
      • Спектрометрія
      • Осцилографи, аналізатори та генератори сигналів
      • Екрановані бокси
      • Джерела живлення, електронні навантаження
      • Аналітичне, лабораторне обладнання
    • Виробники
    • Про нас
      • Глосарій
      • Новини
      • Вакансії
      • Оплата та доставка
      • Політика конфіденційності
      • Договір публічної оферти
    • Контакти
    • Питання відповідь
    • Виробники
    Будьте завжди в курсі!
    Дізнавайтесь про новітні розробки першими
    Новини
    Всі новини
    28 Серпня 2025
    Нові генератори сигналів Siglent - SDG3000X
    25 Липня 2025
    Нові камери Kurokesu на базі IMX462
    18 Червня 2025
    Sheaumann Laser представляє нову серію лазерних діодів 15XX нм
    Cтатті
    Всі статті
    Плазмонний біосенсор, реалізований завдяки резонансному квантовому тунелюванню електронів
    Плазмонний біосенсор, реалізований завдяки резонансному квантовому тунелюванню електронів
    Високошвидкісна 3D-візуалізація
    Високошвидкісна 3D-візуалізація
    Квантові голограми на основі метаповерхонь з гібридним заплутуванням
    Квантові голограми на основі метаповерхонь з гібридним заплутуванням
    Головна-Довідкова інформація-Cтатті-Дифракційні мінімуми розрізняють точкові розсіювачі на кількох сотих довжини хвилі

    Дифракційні мінімуми розрізняють точкові розсіювачі на кількох сотих довжини хвилі

    Дифракційні мінімуми розрізняють точкові розсіювачі на кількох сотих довжини хвилі
    03.04.2025

    У фізиці є важливе питання: наскільки малою може бути відстань d між двома одночасно розсіюючими точковими джерелами, щоб їх можна було розрізнити за допомогою (оптичних) хвиль з довжиною хвилі λ? Підручник з оптики дає відповідь на це питання – критерій Релея, який стверджує, що відстань між дифракційними максимумами розсіювачів на зображенні має бути більшою за d = 0.61λ/(nsinα), де n і α позначають показник заломлення середовища та кут напівапертури лінзи відповідно. Незважаючи на те, що критерій Релея був уведений для дальньопольової мікроскопії, він також працює і для сканувальної оптичної мікроскопії, де об’єкт сканують сфокусованим променем, а зображення отримують, рахуючи фотони на кожній позиції сканування.

    Driff_ph_1.png

    Ідентифікація непружних розсіювачів і вимірювання відстані до них є важливими в багатьох областях, зокрема у флуоресцентній мікроскопії, яка є найпопулярнішим методом візуалізації в науках про життя. Флуоресцентні молекули (флуорофори) можна розглядати як непружні розсіювачі, оскільки вони втрачають частину енергії збуджуючого фотона перед тим, як випромінити фотон, а також гублять інформацію про фазу збуджуючого світла. Флуоресцентна мікроскопія «не бачить» цікаві молекули, наприклад, білки в клітині, як такі, а «бачить» лише флуоресцентні маркери, які зв’язані з цими молекулами як мітки. На перший погляд це невигідно, але насправді цей аспект є критичним для флуоресцентної мікроскопії високої роздільної здатності, оскільки там маніпулюють станами флуорофора для отримання роздільної здатності. Зокрема, флуорофори, які розташовані ближче за дифракційну  межу розрізнення, розпізнаються шляхом тимчасового переведення їх у флуоресцентний стан (ON), тоді як решта зразка зберігається в темному стані (OFF). Переведення флуорофорів у різні стани на короткий проміжок часу забезпечує субдифракційну роздільну здатність. Цей перехід між станами ON/OFF є ключовим для всіх методів флуоресцентної наноскопії, відомих на сьогоднішній день: STED, PALM/STORM, MINFLUX і DNA-PAINT.

    На жаль, розрізнення за станами ON/OFF має обмеження, які не дозволяють поширити такий спосіб отримання надвисокої роздільної здатності (superresolution) на інші типи розсіювання, наприклад, раманівське, не кажучи вже про неоптичні методи. Навіть у флуоресцентній мікроскопії принцип ON/OFF має серйозне обмеження: сусідні флуорофори реєструються послідовно. Це є недопустимим, якщо всі флуорофори необхідно спостерігати одночасно, як, наприклад, при молекулярному відстеженні (трекінгу).

    Driff_ph_3.png

    У новій роботі [1] німецькі вчені показують, що сканування за допомогою сфокусованого світлового поля, яке має (центральний) дифракційний мінімум, а не максимум, дозволяє ідентифікувати та вимірювати відстані між відомою кількістю ідентичних флуорофорів аж до одиниць нанометрів. Шляхом спільної локалізації двох флуорофорів, розташованих на відстані лише 8 нм (для використаної довжини хвилі 640 нм це складає λ/80), показано, що критерій Релея сильно переоцінює мінімальну відстань, на якій можна розрізнити два розсіювачі. Також виміряно довжину сторони 22 нм для квадратного масиву з чотирьох молекул. Завдяки такому підходу безперервне відстеження двох або більше флуорофорів на нанометрових відстанях стає можливим. Також показано, що для заданого відношення сигнал/шум і фону, точність розрізнення зростає зі зменшенням відстані між розсіювачами. Цей несподіваний результат дозволяє поширити запропонований метод на більшу кількість розсіювачів, що має потенціал для спостереження нанометрових конформаційних змін окремих білків та інших (біо)молекул за допомогою світла.

    1. Hensel, T.A., Wirth, J.O., Schwarz, O.L. et al. Diffraction minima resolve point scatterers at few hundredths of the wavelength. Nat. Phys. 21, 412–420 (2025). https://doi.org/10.1038/s41567-024-02760-1

    Повернутися

    2025 © ТОВ «Селток Фотонікс»
    logo youtube.png   in logo.png
    portmone
    ПОПУЛЯРНІ РОЗДІЛИ
    КОМПАНІЯ
    ІНФОРМАЦІЯ
    • Відеокамери
    • Об'єктиви
    • Thorlabs
    • Фотоелектронні помножувачі
    • Фотодіоди
    • Спектрометри
    • Тепловізори
    • УФ джерела
    • Лазери
    • Про нас
    • Контакти
    • Виробники
    • Новини
    • Статті
    • Глосарій
    • Питання-відповідь
    • Договір публічної оферти
    • Оплата та доставка
    • Особистий кабінет
    +380 (44) 351-16-05+380 (67) 326-44-76 Замовити дзвінок
    2025 © ТОВ «Селток Фотонікс»
    logo youtube.png   in logo.png
    portmone