StellarNet спектрометр серії EPP2000HR, 200-1100 нм (UV-VIS-NIR), 16 bit, 0.04 нм

StellarNet спектрометр серії EPP2000HR, 200-1100 нм (UV-VIS-NIR), 16 bit, 0.04 нм

UAH 0

StellarNet спектрометр серії EPP2000HR, 200-1100 нм (UV-VIS-NIR), 16 bit, 0.04 нм StellarNet EPP2000HR High Resolution Spectrometer, series 200-1100 nm, 16-bit, 0.04 nm Лінійка оптоволоконних спектрометрів серії EPP2000-HR включає декілька low-cost модифікацій для UV, VIS та NIR застосунків. Кожна модифікація характеризується дифракційною решіткою та розміром вхідної щілини. Рекомендовані застосування – моніторинг довжин хвиль, характеристика лазерів/світлодіодів змінної довжини хвилі. В приладі застосовується технологія брегівської решітки. Загальна специфікація спектрометрів серії EPP2000HR:  Динамічний діапазон  2000:1, 6 декад  Оптична роздільна здатність  0,04 ни при щілині 7 мкм (див. таблицю модифікацій)  Тип детектора  CCD 2048 пікселів  Спектральні діапазони     Від 200-1100 нм     Розмір пікселя     14 x 200 мкм  Тип дифракційна решітки      Голографічна керована  Оптична схема спектрографа  f/4, SymX-Czerny–Turner   Фільтр оптичних порядків     Інтегрований     Співвідношення сигнал/шум, SNR    1000:1 CCD  Дигітайзер (АЦП)  16-bit / 14-bit  Живлення  100 mA, 5 VDC   Інтерфейс  USB-2  Час інтгерації детектора  Від 1 мс до 65 c  Опції вхідної щілини  На вибір 7, 14, 25 мкм  Коефіцієнт розсіяного світла  <0.1% при 435 нм; <0.05% при 600 нм  Волоконно-оптичний вхід  SMA905, 0.22NA  Операційна система  Win9x/WinXP/Vista/Win7  Програмне забезпечення  SpectraWiz & додатки   Розміри  44 x 94 x 150 мм Модифікації:  Модель/Спектральний діапазон  Гратка  Діапазон решітки  25 μm  14 μm  7 μm  UV4: 200-300 нм     2400 штр./мм  100 нм   0.21 nm resolution  0.14 nm resolution  0.07 nm resolution  UV3: 200-340 нм  1800 штр./мм  140 нм  0.3 nm resolution  0.2 nm resolution  0.1 nm resolution  LSR-UV2: 200-400 нм  2400 штр./мм  200 нм  -  0.2 nm resolution  -  UVN-SR: 200-1100    300 штр./мм  900 нм   1.5 nm resolution  1.0 nm resolution  0.5 nm resolution  HR-UV3: 300-400 нм     2400 штр./мм  100 нм  0.21 nm resolution  0.14 nm resolution  0.07 nm resolution  HR-VIS: 350-750 нм  600 штр./мм  400 нм     1.2 nm resolution  0.8 nm resolution  0.4 nm resolution  LHR-VIS3: 400-500 нм  1800 штр./мм  100 нм    -  -  0.1 nm resolution  LSR-VIS4: 400-600 нм  2400 штр./мм  200 нм   -  0.2 nm resolution  -  NIR4: 500-580 нм  2400 штр./мм  80 нм     0.12 nm resolution  0.08 nm resolution  0.04 nm resolution  LHR-VIS3b: 500-600 нм  1800 штр./мм  100 нм     -  -  0.1 nm resolution  HR-NIR: 500-900 нм  600 штр./мм  400 нм     1.2 nm resolution  0.8 nm resolution  0.4 nm resolution  LHR-VIS3c: 600-700 нм  1800 штр./мм  100 нм   -  -     0.1 nm resolution  LSR-VIS4b: 600-800 нм  1800 штр./мм  200 нм     -  0.2 nm resolution  -  LHR-NIR3: 700-800 нм  1800 штр./мм  100 нм     -  -     0.1 nm resolution  NIR3: 750-850 нм     1800 штр./мм  100 нм  0.15 nm resolution  0.1 nm resolution  0.05 nm resolution  LHR-NIR2: 800-975 нм  1200 штр./мм  175 нм  -  -     0.2 nm resolution  LSR-VIS3b: 800-1000 нм  1800 штр./мм  200 нм  -  0.2 nm resolution   -  NIR2: 900-1075 нм     1200 штр./мм  175 нм   0.26 nm resolution  0.17 nm resolution  0.09 nm resolution