Будьте завжди в курсі!
Дізнавайтесь про новітні розробки першими
Новини
Всі новини
17 Жовтня 2023
Нова 4K USB-камера Kurokesu
4 Вересня 2023
FPD-Link III та GMSL2 - нові можливості камер Alvium
3 Квітня 2023
Нова світлодіодна УФ-піч від UWAVE
StellarNet спектрометр серії EPP2000HR, 200-1100 нм (UV-VIS-NIR), 16 bit, 0.04 нм
Новинка
Під замовлення
-
+
Технічний довідник
- Опис
- Задати питання
-
StellarNet спектрометр серії EPP2000HR, 200-1100 нм (UV-VIS-NIR), 16 bit, 0.04 нм
StellarNet EPP2000HR High Resolution Spectrometer, series 200-1100 nm, 16-bit, 0.04 nm
Лінійка оптоволоконних спектрометрів серії EPP2000-HR включає декілька low-cost модифікацій для UV, VIS та NIR застосунків. Кожна модифікація характеризується дифракційною решіткою та розміром вхідної щілини.
Рекомендовані застосування – моніторинг довжин хвиль, характеристика лазерів/світлодіодів змінної довжини хвилі.
В приладі застосовується технологія брегівської решітки.
Загальна специфікація спектрометрів серії EPP2000HR:
Динамічний діапазон 2000:1, 6 декад Оптична роздільна здатність 0,04 ни при щілині 7 мкм (див. таблицю модифікацій)
Тип детектора CCD 2048 пікселів
Спектральні діапазони Від 200-1100 нм
Розмір пікселя 14 x 200 мкм Тип дифракційна решітки Голографічна керована
Оптична схема спектрографа f/4, SymX-Czerny–Turner
Фільтр оптичних порядків Інтегрований Співвідношення сигнал/шум, SNR 1000:1 CCD
Дигітайзер (АЦП) 16-bit / 14-bit Живлення 100 mA, 5 VDC Інтерфейс USB-2 Час інтгерації детектора Від 1 мс до 65 c Опції вхідної щілини На вибір 7, 14, 25 мкм Коефіцієнт розсіяного світла <0.1% при 435 нм; <0.05% при 600 нм Волоконно-оптичний вхід SMA905, 0.22NA Операційна система Win9x/WinXP/Vista/Win7 Програмне забезпечення SpectraWiz & додатки Розміри 44 x 94 x 150 мм
Модифікації:
Модель/Спектральний діапазон Гратка Діапазон решітки
25 μm
14 μm
7 μm
UV4: 200-300 нм
2400 штр./мм
100 нм
0.21 nm resolution
0.14 nm resolution
0.07 nm resolution
UV3: 200-340 нм
1800 штр./мм
140 нм
0.3 nm resolution
0.2 nm resolution
0.1 nm resolution
LSR-UV2: 200-400 нм
2400 штр./мм
200 нм
- 0.2 nm resolution
-
UVN-SR: 200-1100
300 штр./мм
900 нм
1.5 nm resolution
1.0 nm resolution
0.5 nm resolution
HR-UV3: 300-400 нм
2400 штр./мм 100 нм
0.21 nm resolution 0.14 nm resolution 0.07 nm resolution HR-VIS: 350-750 нм 600 штр./мм
400 нм 1.2 nm resolution 0.8 nm resolution 0.4 nm resolution LHR-VIS3: 400-500 нм
1800 штр./мм
100 нм
- - 0.1 nm resolution LSR-VIS4: 400-600 нм
2400 штр./мм
200 нм
-
0.2 nm resolution
-
NIR4: 500-580 нм
2400 штр./мм
80 нм
0.12 nm resolution
0.08 nm resolution
0.04 nm resolution
LHR-VIS3b: 500-600 нм
1800 штр./мм
100 нм
- -
0.1 nm resolution
HR-NIR: 500-900 нм
600 штр./мм
400 нм
1.2 nm resolution
0.8 nm resolution 0.4 nm resolution
LHR-VIS3c: 600-700 нм
1800 штр./мм
100 нм
- - 0.1 nm resolution LSR-VIS4b: 600-800 нм
1800 штр./мм
200 нм
- 0.2 nm resolution
- LHR-NIR3: 700-800 нм
1800 штр./мм 100 нм - - 0.1 nm resolution
NIR3: 750-850 нм 1800 штр./мм 100 нм 0.15 nm resolution 0.1 nm resolution
0.05 nm resolution
LHR-NIR2: 800-975 нм
1200 штр./мм 175 нм - - 0.2 nm resolution
LSR-VIS3b: 800-1000 нм
1800 штр./мм
200 нм
- 0.2 nm resolution - NIR2: 900-1075 нм
1200 штр./мм 175 нм 0.26 nm resolution
0.17 nm resolution
0.09 nm resolution
Характеристики
Спектральний діапазон UV-VIS-NIR -
Ви можете надіслати питання щодо продукції та роботи компанії